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WK4120稳科LCR测试仪200KHz

1J4110    频率范围20Hz~100kHz

1J4120    频率范围20Hz~200kHz
1J4150    频率范围20Hz~500kHz
1J41100  频率范围20Hz~1MHz


测试频率:20Hz—1MHz

基本精度:0.1%

最快测试速度:〈20ms

提供B1、B2、S1和S2测包讯号,可连接各家封装测试机

测试参数:阻抗(Z),  相位角(θ)、交流电阻(Rac)、电容(C),  损耗因数(D),电感(L), 品质因数(Q),电纳(B),  电导(G), 电抗(X), 导纳(Y)和直流电阻(Rdc)

交流信号源:10mV—2Vrms

通信接口:GPIB、RS232、LAN和USB

直流叠加:内置+2V,外加0—±40V

具有带电电容器放电保护电路

体积小、重量轻、性价比更高的元器件测试仪器



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